在生產(chǎn)使用過程中，產(chǎn)品表面往往容易被污染、腐蝕、氧化，形成其他異物，一般很難用肉眼分辨，更無法了解其成分與來源，必須通過顯微途徑觀察分析。中心配備有顯微紅外、放大倍數(shù)從10倍-20萬(wàn)倍的掃描電子顯微鏡和對(duì)固體樣品元素價(jià)態(tài)分析的X射線光電子能譜，可以分別對(duì)不同現(xiàn)象和類別的異物進(jìn)行分析。掃描電子顯微鏡可在分子尺度，對(duì)材料微觀形貌進(jìn)行直接觀測(cè)，同時(shí)對(duì)微小區(qū)域進(jìn)行X射線能譜測(cè)試，分析其成分組成，X射線光電子能譜能夠?qū)腆w樣品的元素成分進(jìn)行定性、定量或半定量及價(jià)態(tài)分析，廣泛應(yīng)用于元素分析、多相研究、化合物結(jié)果鑒定、富集法微量元素分析、元素價(jià)態(tài)鑒定等。

主要分析儀器：

顯微/傅里葉紅外光譜儀(FTIR)、掃描電子顯微鏡/X射線能譜儀(SEM/EDS)、X射線光電子能譜儀(XPS)、二次離子質(zhì)譜(SIMS)、X射線衍射儀(XRD)等。

主要測(cè)試項(xiàng)目：

無機(jī)異物分析

有機(jī)異物分析

異物源頭判定