TO封裝集成電路老化測試插座

該插座用于金屬殼封裝集成電路的老化、測試、篩選作連結之用，連結金屬管材料采用磷青銅表面鍍金、 鍍銀、鍍鎳等工藝，該插座耐高溫、絕緣性能好，經久耐用，深受用戶的歡迎。

產品型號及規(guī)格；

TO-4、6、8、10、12

主要技術指標；

環(huán)境溫度；-55℃—+155℃ 接觸電阻；≤0.01歐

工作電壓；DC500V

單腳插入力；≤0.2Kg

磷青銅管鍍銀層厚度；1um鎳2um銀

高低溫狀態(tài)下插拔壽命；2000-3000次.