電子元器件失效分析的目的是借助各種測試分析技術和分析程序確認電子元器件的失效現(xiàn)象，分辨其失效模式和失效機理，確認終的失效原因，提出改進設計和制造工藝的建議，防止失效的重復出現(xiàn)，提高元器件可靠性。

在電子產(chǎn)品層出不窮的今天產(chǎn)品之間的劇烈競爭要求電子產(chǎn)品的質(zhì)量必須過硬，因此企業(yè)要想在競爭中獲勝必須在電子產(chǎn)品出廠前通過一定的電子電器檢測，以保證其產(chǎn)品質(zhì)量。專業(yè)的電子電器檢測一般包含環(huán)境可靠性檢測。

在電子電器檢測中，環(huán)境可靠性檢測是指電子產(chǎn)品在固定條件以及規(guī)定時間內(nèi)完成規(guī)定功能的能力，其要求電子產(chǎn)品不受自身、外界、及機械環(huán)境等的影響。

電氣性能是電子產(chǎn)品的性質(zhì)決定的，電子產(chǎn)品通過電氣作用，接觸電阻、絕緣電阻以及耐電壓這些性能是其工作根本保障，這些在電子電器檢測中都是必不可少的。

在電子電器檢測中，對環(huán)境的氣候檢測一般采取的可變因素有高溫、低溫、高低溫交替、高濕、低濕、高溫高濕、快速溫度變化、高壓、高蒸汽、鹽霧腐蝕、氣體腐蝕、光老化以及UV老化等這些氣候環(huán)境都是電子產(chǎn)品在出廠后在使用過程中可能處于或遇到的環(huán)境。

機械環(huán)境檢測中的控制因素有震動、機械沖擊、跌落、插拔力、插拔壽命、耐磨測試以及高加速壽命測試、斜面跌落沖擊、高加速盈利篩選等，現(xiàn)代化工作社會中電子產(chǎn)品可能會遇到這樣的環(huán)境。