一、智能電子鎖壽命耐久性試驗(yàn)裝置概述：

智能電子鎖壽命耐久性試驗(yàn)裝置完全滿足GA 374-2001 電子防盜鎖，GA 701-2007 指紋防盜鎖通用技術(shù)條件，GB 21556-2008 鎖具通用技術(shù)條件，JG/T 394-2012，IEC 62692數(shù)字門鎖系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)，UL294門禁系統(tǒng)，UL1037，BHMA A156.25，BHMA A156.13，BHMA A156.36等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)要求。專為密碼電子門鎖，指紋電子門鎖，刷卡智能門鎖研發(fā)設(shè)計(jì)的一體化壽命測試系統(tǒng)。APP臨時(shí)密匙開門、指紋開門、鑰匙開門、藍(lán)牙開門、密碼開門，磁卡開門，無論您測試的鎖是采用哪種開門方式我們都能為您測試。

二、測試步驟及技術(shù)指標(biāo)：

1、指紋開鎖測試流程：

A.上提外把手打出方舌

B.門內(nèi)保險(xiǎn)鈕打出保險(xiǎn)

C.向上推開外殼滑蓋上電

D.按壓指紋鍵

E.下壓把手

F.移動(dòng)模擬門開門

G.向下推開外殼滑蓋上電

H.把手復(fù)位,機(jī)械臂施加50N力關(guān)上模擬門

2、密碼開鎖測試流程：

A.上提外把手打出方舌

B.門內(nèi)保險(xiǎn)鈕打出保險(xiǎn)舌

C.向上推開外殼滑蓋上電

D.按壓虛擬密碼鍵

E.下壓把手

F.移動(dòng)模擬門開門

G.向下推開外殼滑蓋上電

H.把手復(fù)位, 機(jī)械臂施加50N力關(guān)上模擬門

3、磁卡開鎖測試流程：

A.上提外把手打出方舌

B.門內(nèi)保險(xiǎn)鈕打出保險(xiǎn)舌

C.向上推開外殼滑蓋上電

D.刷卡

E.下壓把手

F.移動(dòng)模擬門開門

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