深圳顆粒大小測(cè)試 粒度分析SEM測(cè)試報(bào)告、陽江鋁粉形貌SEM分析、粒度分析、粒度分析 通常都指的是對(duì)顆粒進(jìn)行分析。粒度分析的方法和對(duì)象非常廣。對(duì)易于分解離開的碎屑沉積，通常采用篩析法和沉速法；對(duì)固結(jié)較緊且又不易解離的碎屑沉積，通常采用薄片鑒定法；對(duì)粗大的礫石通常采用直接測(cè)量法。根據(jù)分析結(jié)果，可推測(cè)沉積物的形成條件和環(huán)境。對(duì)于不同原理的粒度分析儀器，所依據(jù)的測(cè)量原理不同，其顆粒特性也不相同，只能進(jìn)行等效對(duì)比，不能進(jìn)行橫向直接對(duì)比。

顆粒的大小稱為粒度，一般顆粒的大小又以直徑表示 , 故也稱為粒徑。用方法反映出一系列不同粒徑區(qū)間顆粒分別占試樣總量的百分比稱為粒度分布。

晶粒：指單晶顆粒，即顆粒內(nèi)為單相，無晶界。

一次顆粒：指含有低孔隙率的一種獨(dú)立的粒子。它能被電子顯微鏡觀察到。

團(tuán)聚體：是由一次顆粒為降低表面勢(shì)能而通過范德華力或固定的橋鍵作用形成的更大顆粒。團(tuán)聚體內(nèi)含有相互連接的孔隙網(wǎng)絡(luò)，它能被電子顯微鏡觀察到。

二次顆粒：指人為制造的粉料團(tuán)聚粒子。

等效直徑：

不規(guī)則形狀的顆粒，顆粒大小取決于測(cè)定方法；

每種測(cè)定方法僅表征某種特定的物理參數(shù)（長(zhǎng)度，面積，體積，沉降速度等）；

將該被測(cè)物理參數(shù)與球形顆粒等效，即為等效直徑；

等效直徑有多種：篩分直徑，Stokes直徑，投影直徑，體積直徑，面積直徑，F(xiàn)eret直徑等；

有相同直徑的顆粒，形狀可能不同；

粒度分布測(cè)量需要足夠多的顆粒統(tǒng)計(jì)分析

顯微鏡法(Microscopy)

粒度分析示意圖SEM、TEM；1nm～5μm范圍。適合納米材料的粒度大小和形貌分析。

沉降法(SedimentationSizeAnalysis)沉降法的原理是基于顆粒在懸浮體系時(shí)，顆粒本身重力(或所受離心力)、所受浮力和黏滯阻力三者平衡，并且黏滯力服從斯托克斯定律來實(shí)施測(cè)定的，此時(shí)顆粒在懸浮體系中以恒定速度沉降，且沉降速度與粒度大小的平方成正比。10nm～20μm的顆粒。