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博曼X射線膜厚測試儀主要基于核心控制軟件的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。采用全新數(shù)學計算方法,采用FP(Fundamental Parameter)、DCM(Distenco ControlledMeasurement)及強大的電腦功能來進行鍍層厚度的計算,在加強的軟件功能之下,簡化了測量比較復雜鍍層的程序,甚至可以在不需要標準片之下,一樣測量。

只需輕輕按一下激光對焦按鈕,就可自動進行對焦。