遺傳PID控制是將控制器參數(shù)構(gòu)成基因型，將性能指標(biāo)構(gòu)成相應(yīng)的適應(yīng)度，利用遺傳算法來(lái)整定控制器的參數(shù)，不要求系統(tǒng)是否為連續(xù)可調(diào)，能否以顯式表示?；谶z傳算法的自適應(yīng)PID控制的原理框圖如7。遺傳PID溫控系統(tǒng)將測(cè)量值與給定值進(jìn)行比較，用遺傳算法來(lái)優(yōu)化PID參數(shù)，然后將控制量輸出，實(shí)現(xiàn)將PID參數(shù)串接構(gòu)成完整染色體，從而構(gòu)成遺傳空間中的個(gè)體，過(guò)通過(guò)繁殖交叉和變異遺傳操作生成新一代群體，經(jīng)過(guò)多次搜索獲得適應(yīng)度值的個(gè)體。

有過(guò)長(zhǎng)時(shí)間使用無(wú)線(xiàn)溫度驗(yàn)證儀經(jīng)驗(yàn)的人都知道，即便市面上口碑的無(wú)線(xiàn)驗(yàn)證儀，都存在一定的故障概率。如果每年只做一次前校準(zhǔn)，意味著一旦出現(xiàn)故障，上一次前校準(zhǔn)之后的數(shù)據(jù)都將受到質(zhì)疑。我們盡管能通過(guò)交叉對(duì)比或替換法鎖定數(shù)據(jù)明顯異常的故障探頭，卻無(wú)法確定明顯異常與輕微異常之間的臨界點(diǎn)和異常發(fā)生在什么時(shí)候，更無(wú)法證明這種故障是間歇性的還是持續(xù)性存在。

數(shù)字溫度指示調(diào)節(jié)儀

圖片

a.儀表的試驗(yàn)項(xiàng)目應(yīng)包括：指示基本誤差、穩(wěn)定度誤差、設(shè)定點(diǎn)誤差及PID特性試驗(yàn)等。

b.指示基本誤差試驗(yàn)宜采用輸入基準(zhǔn)法校準(zhǔn)，但需重復(fù)試驗(yàn)兩次，取其差值作為被校儀表在該點(diǎn)的誤差。

c.儀表穩(wěn)定度試驗(yàn)包括顯示波動(dòng)量和示值漂移量的測(cè)定，做為評(píng)價(jià)儀表品質(zhì)的參數(shù)，一般儀表顯示波動(dòng)量不得大于其分辨力，1小時(shí)內(nèi)示值漂移量不得大于儀表允許誤差的1/4。

d.帶調(diào)節(jié)功能的儀表，應(yīng)在量程的10%、50%、90%附近，試驗(yàn)校準(zhǔn)設(shè)定點(diǎn)偏差及比例積分微分功能的檢定，設(shè)定點(diǎn)的偏差應(yīng)不大于儀表允許誤差，實(shí)際比例帶應(yīng)在刻度值的±25%的范圍內(nèi)，積分時(shí)間固定的儀表，實(shí)際積分時(shí)間應(yīng)在（1±0.5）Ti范圍內(nèi)。積分微分時(shí)間可調(diào)的儀表，實(shí)際積分微分時(shí)間與積分微分時(shí)間刻度值的允許偏差為±50%。

溫度變送器

a.按照儀表銘牌標(biāo)志的輸入、輸出信號(hào)范圍和類(lèi)型進(jìn)行輸入、輸出特性的校準(zhǔn)和試驗(yàn)，其校準(zhǔn)接線(xiàn)方法應(yīng)符合制造廠技術(shù)文件要求。

b.與感溫元件一體化的溫變校準(zhǔn)和試驗(yàn)時(shí)，應(yīng)斷開(kāi)感溫元件，并由此輸入模擬信號(hào)。