通過高低溫試驗箱模擬環(huán)境溫度變化提高電子元器件環(huán)境溫度、濕度、溫度循環(huán)等適應能力，加速元器件中可能發(fā)生或存在的化學反應（如由水蒸汽或其他離子所引起的腐蝕作用，表面泄漏、污染以及金-鋁金屬化合物的產生等），提前消除潛在缺陷。

電子元器件的許多故障是由于體內和表面的各種物理化學變化引起的。當環(huán)境溫度升高后，化學反應速率大大加快，故障過程也得到加速。有缺陷的元器件就會暴露。

高溫儲存試驗對表面污染、引線鍵合不良和氧化層缺陷有很好的篩選作用。