關(guān)鍵性能

專為快速構(gòu)建測試解決方案，加速實(shí)施制造測試而設(shè)計(jì)

提高對無線元器件、功率放大器和射頻前端模塊進(jìn)行制造測試的吞吐量

一個(gè) 18 插槽機(jī)箱可以安裝多達(dá) 4 個(gè) VXT 收發(fā)信機(jī)，從而提高測試密度，減小占用空間

利用開源測試程序庫和參考解決方案大幅縮短開發(fā)時(shí)間

內(nèi)置由 FPGA 加速的測量，讓您從開始設(shè)計(jì)時(shí)便一步

使用經(jīng)過驗(yàn)證的軟件對測試程序進(jìn)行優(yōu)化，更好地執(zhí)行噪聲系數(shù)和特定標(biāo)準(zhǔn)測量