日本JIMA RT CT-01B CT分辨率測(cè)試卡詳細(xì)介紹：

由日本檢測(cè)儀器制造商協(xié)會(huì) （JIMA） 精心打造，為 CT 和 X 射線系統(tǒng)提供的校準(zhǔn)。它們可提高各種分辨率下的成像精度，對(duì)于高質(zhì)量的掃描和檢查至關(guān)重要。

日本JIMA RT CT-01B CT分辨率測(cè)試卡采用的半導(dǎo)體工藝技術(shù)，采用金 (Au) 吸收材料開(kāi)發(fā)了一種新的 CT 分辨率圖，適用于從 3 微米到 7 微米的 5 種不同尺寸的線和空間。這是檢查 Microfocus X 射線 CT 掃描系統(tǒng)

性能的非常有用且不可或缺的工具，也可用于校準(zhǔn)、設(shè)置、維護(hù)、日常對(duì)準(zhǔn)等。

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