可靠性

對電子元件具有可靠性描述的方式有2種，即質(zhì)量保級和失效率等級。其中，前者多被用來對部分元件及電子器件所具有可靠性水平進行相應(yīng)評價，后者則更適合被用來對多數(shù)電子元件所具有可靠性水平進行說明。若以GJB/Z299B 為依據(jù)，對電子設(shè)備具有可靠性進行預(yù)計，通常需要用到“質(zhì)量等級”這一參數(shù)。

失效率

現(xiàn)階段，失效率主要被用來對產(chǎn)品是否可靠進行量化描述。該特征數(shù)指的是在某時刻前始終處于正常運行狀態(tài)的產(chǎn)品，在運行到這一時刻后在單位時間內(nèi)出現(xiàn)失效問題的概率。作為對產(chǎn)品是否可靠進行判斷的主要依據(jù)，失效率等級往往與元件質(zhì)量、可靠性水平密切相關(guān)，現(xiàn)階段，各版本國軍標(biāo)所采取表述方式通常存在明確區(qū)別。例如，GJB65A-91 將繼電器對應(yīng)失效率等級劃分成了 4 級，由低至高依次為 Y/W/L/Q 級，并指出電容器同樣遵循以上規(guī)定。GJB244-87 則將元件失效率等級劃分成為 W/L/Q/B 4級。對于由國軍標(biāo)生產(chǎn)線所生產(chǎn)、已通過認證且在產(chǎn)品目錄中有據(jù)可循的缺少可靠指標(biāo)的電連接器和云母電容器等元件，有關(guān)人員通常用 J 對其質(zhì)保等級進行描述。

電子元器件在質(zhì)量方面國際上有歐盟的CE認證，美國的UL認證，德國的VDE和TUV認證以及中國的CQC認證等國內(nèi)外認證，來保證元器件的合格。

電子元器件的發(fā)展史其實就是一部濃縮的電子發(fā)展史。電子技術(shù)是十九世紀(jì)末、二十世紀(jì)初開始發(fā)展起來的新興技術(shù)，二十世紀(jì)發(fā)展迅速，應(yīng)用廣泛，成為近代科學(xué)技術(shù)發(fā)展的一個重要標(biāo)志。