以下是參比電極的常見(jiàn)故障及其解決方法，按故障現(xiàn)象分類(lèi)，便于快速排查和解決實(shí)際問(wèn)題：

1. 電位漂移（讀數(shù)不穩(wěn)定）

可能原因：

液接部堵塞：多孔陶瓷或纖維芯被雜質(zhì)堵塞，導(dǎo)致離子擴(kuò)散受阻。

內(nèi)部電解液耗盡：如甘汞電極的KCl溶液蒸發(fā)或滲漏。

溫度波動(dòng)：未進(jìn)行溫度補(bǔ)償，尤其是溫度敏感型電極（如SCE）。

污染：被測(cè)溶液中的雜質(zhì)（如有機(jī)物、硫化物）污染電極。

解決方法：

清潔液接部：用去離子水浸泡或超聲清洗堵塞的液接部；嚴(yán)重時(shí)更換多孔塞。

補(bǔ)充電解液：打開(kāi)電極填充口，補(bǔ)充飽和KCl（SCE）或?qū)?yīng)電解液。

溫度補(bǔ)償：使用帶溫度傳感器的電化學(xué)工作站自動(dòng)校正，或手動(dòng)計(jì)算溫度修正值。

更換電極或隔離污染：若污染嚴(yán)重，更換新電極；對(duì)含干擾離子的體系，改用抗污染電極（如雙液接參比電極）。

2. 響應(yīng)時(shí)間變慢

可能原因：

液接部部分堵塞，導(dǎo)致離子遷移速率下降。

內(nèi)部電解液濃度不均（如KCl結(jié)晶析出）。

電極老化（如Ag/AgCl電極的氯化銀層剝落）。

解決方法：

徹底清潔液接部，必要時(shí)用稀鹽酸浸泡（針對(duì)KCl結(jié)晶）。

搖晃電極使內(nèi)部溶液混合均勻，或更換新鮮電解液。

重新鍍AgCl層：將Ag電極浸入0.1 M HCl，通電氧化生成AgCl。

3. 電位明顯偏離標(biāo)稱(chēng)值

可能原因：

電解液濃度錯(cuò)誤：如誤用低濃度KCl填充Ag/AgCl電極。

參比電極與體系不兼容：如Cl?干擾體系使用SCE導(dǎo)致污染。

電極內(nèi)部短路：金屬部件接觸異常（如甘汞電極的Hg泄露）。

解決方法：

檢查并更換正確濃度的電解液（如Ag/AgCl電極需3.5 M或飽和KCl）。

更換兼容電極：如無(wú)Cl?體系改用硫酸亞汞電極。

檢查電極結(jié)構(gòu)：修復(fù)泄露或更換損壞電極。

4. 電解液滲漏或結(jié)晶

常見(jiàn)于：

甘汞電極（SCE）：KCl溶液易結(jié)晶或Hg泄露。

Cu/CuSO?電極：硫酸銅溶液蒸發(fā)后析出藍(lán)色晶體。

解決方法：

清理結(jié)晶：用濕布擦拭外部結(jié)晶，避免堵塞液接部。

密封檢查：定期檢查電極密封性，補(bǔ)充電解液后確保封口嚴(yán)密。

處理汞泄露：按危險(xiǎn)廢棄物處理流程收集泄露的汞，避免接觸皮膚。

5. 電極完全失效（無(wú)響應(yīng)）

可能原因：

液接部完全堵塞或電極干涸（如長(zhǎng)期未浸泡保存）。

內(nèi)部導(dǎo)線斷裂或接觸不良。

電極化學(xué)失效（如Ag/AgCl電極的AgCl層完全溶解）。

解決方法：

嘗試復(fù)蘇：將電極浸泡在對(duì)應(yīng)電解液中數(shù)小時(shí)，觀察是否恢復(fù)。

檢查電路：用萬(wàn)用表測(cè)試電極導(dǎo)通性，修復(fù)或更換導(dǎo)線。

更換新電極：化學(xué)失效的電極不可逆，需替換。

6. 特殊體系中的異常

案例與解決：

高阻抗體系（如有機(jī)溶劑）：液接部電位不穩(wěn)定。

→ 使用含LiClO?的Ag/AgCl電極，或添加離子液體增強(qiáng)導(dǎo)電性。

高溫高壓環(huán)境：常規(guī)電極易分解。

→ 選用耐高溫參比電極（如ZrO?固體電極）或外部冷卻裝置。

生物體系（如含蛋白質(zhì)）：液接部被生物分子堵塞。

→ 使用瓊脂鹽橋隔離，或更換可拋式微型Ag/AgCl電極。

日常維護(hù)與預(yù)防措施

定期校準(zhǔn)：使用標(biāo)準(zhǔn)緩沖液（如pH 4/7/10）驗(yàn)證電位。

正確存儲(chǔ)：

甘汞電極：浸泡在飽和KCl溶液中，避免干燥。

Ag/AgCl電極：短期使用可存于KCl溶液，長(zhǎng)期存放需干燥密封。

避免污染：

使用鹽橋或雙液接結(jié)構(gòu)隔離被測(cè)溶液與參比電極。

不同體系專(zhuān)用電極，避免混用。

定期檢查：觀察電解液液面、結(jié)晶情況及液接部通暢性。