西安千月電子科技有限公司通過(guò)整合省內(nèi)外高校、研究所及相關(guān)企業(yè)測(cè)試資源，建設(shè)了測(cè)試服務(wù)平臺(tái)，具備材料組分、結(jié)構(gòu)、表面形貌、電學(xué)特性及可靠性測(cè)試能力。公司具有多名材料及半導(dǎo)體背景的技術(shù)人員，可為您提供一對(duì)一的測(cè)試及分析服務(wù)，為您科研提供有力支持。同時(shí)更歡迎科研人才，有識(shí)之士加入千月團(tuán)隊(duì)！

測(cè)試服務(wù):

高分辨透射電子顯微鏡（TEM）

JEM-3010

掃描電鏡SEM

zeiss SIGMA 500

JEM-6700F

FEI Quanta-450-FEG+X-MAX50

S3400N

原子力顯微鏡(AFM)

Veece nanoscopeⅢA型

超聲波掃描（SAM）

Sonoscan D24

X射線衍射儀XRD

XRD-7000

X'Pert Pro

日本理學(xué)Dmax-Rapid II

X射線光電子能譜儀(XPS）

AXIS ULTRA

X射線檢測(cè)（X-Ray）

Phoenix MICROME|X 180T

激光拉曼光譜儀

Renishaw inVia Reflex

傅立葉變換紅外光譜儀

JOEL FTIR8400

穩(wěn)態(tài)/瞬態(tài)熒光光譜儀

FLS980

PL熒光光譜量測(cè)系統(tǒng)

S301-058/059

PL映射系統(tǒng)PL MAPPING SYSTEM

Platom RPM blue

靜電衰減測(cè)試儀

JCI155v6

介電阻抗譜測(cè)試

Novocontrol GmbH Concept 40

步入式現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境模擬系統(tǒng)(恒溫恒濕環(huán)境)

X-73

高低溫沖擊試驗(yàn)箱

ETH80-40A

電阻率測(cè)試儀

NIPPON

膜厚測(cè)試儀

橢偏儀

C-V測(cè)試

420S

B1500

探針臺(tái)

EB12/PSM1000

EPS 150TRIAX

激光共聚焦

OLS4100

綜合物性測(cè)量

VersaLab

ECV

EP-RE-0051

顆粒儀(自動(dòng)光學(xué)檢查系統(tǒng))

nSpec

可見(jiàn)分光光度計(jì)

CARY 5000

紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)

Lambda950

臺(tái)階儀

布魯克Dektak XT

A-Step膜厚段差測(cè)量?jī)x

Dektak150

EL量測(cè)試系統(tǒng)

ELV1-MP3

金相顯微鏡

BX51M

HALL載流子濃度測(cè)試儀

HL5500PC