北京市高新技術(shù)企業(yè)，國家863項目承擔(dān)單位。主營：冠層圖像分析儀,原位根系監(jiān)測,葉面積指數(shù)儀。

冠層圖像分析儀用于各種高度植物冠層研究。利用魚眼鏡頭和圖像傳感器來獲取植物冠層圖像并進行分析，通過專業(yè)軟件分析，獲得植物冠層的相關(guān)指標(biāo)參數(shù)；魚眼鏡頭成像測量冠層數(shù)據(jù)只操作一次即可，簡化了傳統(tǒng)能量法要定點多次測量的繁復(fù)工作；圖像法測量冠層可以主動避開不符合計算該冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)的冠層空隙部分，也可以躲開不符合測量計算的障礙物。

冠層圖像分析儀輕便、操作簡便、測量靈活，可以非破壞性的輕易獲得冠層數(shù)字高精度圖像，適用于森林及低矮植物各種高度冠層測量現(xiàn)場獲取植物冠層彩色圖像，并直接顯示和儲存在計算機上。冠層圖像分析儀廣泛適用于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)領(lǐng)域有關(guān)栽培、育種、 植物群體對比與發(fā)展的研究與教學(xué)中農(nóng)作物、果樹、森林內(nèi)冠層受光狀況的測量和分析。

冠層圖像分析儀能測算植物冠層的太陽直射光透過率、天空散射光透過率、冠層的消光系數(shù)、葉面積指數(shù)和葉片平均傾角等。冠層圖像分析儀采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法。